از اسکن لیزری خطی سهبعدی و تصویربرداری میدان گسترده برای اندازهگیری یکپارچه سهکاره استفاده میکند.
ارتفاع، تختالی و ابعاد صفحهای دلخواه را به طور همزمان اندازهگیری کرده و قابل برنامهریزی در یک توالی عملیاتی واحد است.
تمامی ابعاد صفحهای دوبعدی محصولات را به سرعت ثبت و اندازهگیری میکند.
برای قطعات کار کوچک، نیاز به راهاندازی سیستم مختصات را حذف کرده و امکان همترازی خودکار را فراهم میکند.
عدسی با بزرگنمایی بالا، اندازهگیری با دقت بالا برای ابعاد بسیار ریز را ارائه میدهد.
اسکن لیزری خطی سهبعدی به سرعت تختالی و ارتفاع پله قطعه کار را اسکن و اندازهگیری کرده، نتایج ارزیابی را ارائه داده و گزارشها را صادر میکند.
قدرت اندازهگیری ترکیبی: چاقوی چندکاره سوئیسی در دنیای اندازهگیری دقیق
شاخصهای عملکرد
| مدل |
APV 3020DCC |
APV 4030DCC |
APV 5040DCC |
| محدوده اندازهگیری (میلیمتر) |
300*200*200 |
400*300*200 |
500*400*200 |
| ابعاد کلی (میلیمتر) |
730*670*1680 |
930*820*1680 |
1250*1160*1860 |
| میز کار (میلیمتر) |
سطح کار چدنی |
460*360 |
560*460 |
660*560 |
| سطح کار شیشهای |
339*239 |
439*339 |
539*439 |
| سیستمهای تصویربرداری و اندازهگیری |
ظرفیت بار / وزن (کیلوگرم) |
25/280 |
25/380 |
30/380 |
| سرعت اندازهگیری |
حداکثر: 250mm/S |
| دوربین |
1 دوربین صنعتی هایک ویژن 20 مگاپیکسل (میدان دید گسترده)، 1 دوربین صنعتی هایک ویژن 1.3 مگاپیکسل (میدان دید باریک) |
| عدسی زوم |
عدسی CCD تلهسنتریک 0.16X، عدسی زوم ثابت 0.7X-4.5X |
| بزرگنمایی ویدئو |
میدان دید گسترده 0.16X، میدان دید باریک 0.7X-4.5X |
| فاصله کاری |
میدان گسترده: 120mm، میدان باریک: 90mm |
| دقت تفکیک خطکش شیشهای |
خطکش نوری دقیق 0.5μm |
| دقت اندازهگیری (میکرومتر) |
میدان گسترده محور XY ≤ (5 + L/200)μm، میدان باریک محور XY ≤ (3 + L/200)μm (L = طول جسم اندازهگیری شده) |
| نورپردازی |
نور هممحور سطحی و نور صفحه موازی قابل برنامهریزی |
| منبع تغذیه |
220V ±10% (AC) 50 Hz، نیازمند اتصال زمین مطمئن: مقاومت زمین <4 اهم |
| محیط عملیاتی |
دما 5℃ ±23، تغییر دما <2℃/ساعت، رطوبت 80%-30%， لرزش <0.002g، فرکانس <15Hz |
